介损仪

反接线法：（接线如图五所示）
通电前，先将“试验电压”开关置于“关”位置，将ＵＨ端子接地，将ＩＸ的芯线（有CX标记）接至被试品CX的高端。
通电后，按“反接”键，选好反接线方式；用“试验电压”开关选好电压；然后按“起动”键开始测试。
★★★特别注意：屏蔽“E”与ＩＸ电位接近，可接至被试品高压端的屏蔽或者悬空，绝对不能接地！！！。

外接高压法：(接线如图六所示)
CB为外接标准电容，CX为被试品。
当被试品要求试验电压大于１0ＫＶ时，可以外接高压进行测量，即不使用仪器内部高压变压器，而外接一台高压装置进行测量。
★★★注意：外接高压法进行测量时，“试验电压”开关必须置于“关”位置！！！
★★★外接高压法时，应外接标准电容器ＣB,不许使用仪器内标准电容器！！！
通电后，多次按“外接”键，选好外接线方式以及外接的标准电容容量，必须再将“试验电压”开关置于“关”位置！调整好外接电压，然后按“起动”键开始测试。
SXJS-IV型为中文液晶显示，有中文汉字提示各类测试信息。当测试完成后，可按“打印”键，打印测试结果。
六、保管免费及免费修理期限
仪器应在原厂包装条件下，于室内贮存，其环境温度为０－４0℃相对湿度为３0％－７0％，且在空气中不应含有足以引起腐蚀的有害物质。仪器从冷环境突然到热环境中时，可能有结露，应等结露消失后再使用。每年应打开仪器，清除由于野外作业产生的灰尘，特别是内部标准电容处的灰尘。
仪器和附件自制造厂发货日期起１2个月内，当用户在完全遵守制造厂使用说明书所规定的保管的使用条件下，发现产品制造质量不良或不能正常工作时，制造厂负责给予修理或更换。
七、仪器成套性
（１）介质损耗测试仪 １台
（２）专用测试线缆 ２根
（３）保险丝（５Ａ） ４只
（０.５Ａ） ２只
（４）电源线 １根
（５）使用说明书 １份
（６）产品合格证 １份

附录：抗干扰探讨

（一）、干扰
以电容试品为例，当工频电压加在电容上时，其上流过两个电流（图Ａ）：容性电流Ｉｃ和阻性电流Ｉｒ，合成为试品电流Ｉｘ。Ｉｃ和Ｉｒ形成的夹角δ即为介质损耗角。当干扰电流Ｉｇ流入试品时，与Ｉｘ合成为Ｉｇｘ，Ｉｘ与Ｉｇｘ之间的夹角β是由干扰电流Ｉｇ形成的。测量到的电流Ｉｇｘ与Ｕｃ的夹角是β＋δ与阶损角δ相差很大。
（二）、方法
目前，智能介质损耗仪通常采用的抗干扰方法主要有种：
（１）、移相法
方法是将加到试品上的测试电压Ｕｒ移相，使Ｕｃ与Ｉｇ同相位（Ｕｒ与Ｕｃ恒定相差９0度）,从图Ｂ中可见，测量到的电流Ｉｇｘ与有效的Ｉｘ相差不大（当干扰电流较小时），如果能再反Ｉｇ方向将Ｕｃ移相一次，两次数据合成即能准确地找到阶损角δ（即使干扰电流较大）。
（２）、变频法
现场测量时通常使用工频电源，而现场干扰主要也是工频，同频率的电源相互叠加形成干扰，去除无用的干扰而保留有用测试电流是非常困难的。用非工频电源进行测量，则工频电源的干扰电流与测试电流由于频率不同，是很容易区分开的。比如，将所含有干扰混合信号的前１0ｍＳ信号，与后１0ｍＳ信号相加，就去除了工频干扰，而测量信号不是５0Ｈｚ所以得以保留。
（３）、波形分析法
计算机的运用，使大量的工程分析计算变得方便，通过对现场干扰的大量采集分析，结合测量到的波形，运用高等数学理论，巧妙地去除干扰，也同样达到目的。甚至去除一、三、五次谐波也很方便。
（三）、要求
工程测量介质损耗，通常要求能分辨出０.1％介损值是不过分的。
介质损耗：ｔｇ（δ）＝０.1％＝０.00１
损耗角度：δ＝０.057°
对应时间：Ｔ＝δ／360°×２0ｍＳ＝３.183μＳ
（四）、比较
干扰信号是由干扰源通过媒介施加到试品上，即使干扰源是恒定的，但传输媒介是空气及其它绝缘体不是恒定介质（图Ｃ、图Ｄ），所以干扰电流Ｉｇ方向随机变化的程度≥０.057°不足为奇。要使测试电源随时跟踪Ｉｇ，而跟踪角度误差≤０．057°绝非易事。所以最终抗干扰虽然有效，但是测量精度不容易提高。
运行的设备（试品）在工频下运行，要求知道在工频条件下的介质损耗。
理论上：介质损耗＝２πｆＲＣ，（ｆ＝５0Ｈｚ）
所以用非工频的ｆ＇电源加在试品上所测得的介质损耗＝２πｆ＇ＲＣ，再由这一结果推算出２πｆＲＣ易如反掌。
然而运行设备的等效Ｒ，不是理想的电阻，其中更多的是有极分子，其等效Ｒ随频率ｆ的变化而变化，所以尽管理论上介质损耗与频率成正比，而实际介质损耗（２πｆＲＣ）不与频率成正比。这给根据变频２πｆ＇ＲＣ推算工频２πｆＲＣ造成了麻烦。
为了减小这个非线性误差，ｆ＇采用接近工频的频率，但过分接近等于没有变频，这就是主要矛盾。好在大多数试品对频率的敏感没有那么强烈。所以变频法抗干扰是比较成功的。
产生一个有一定的功率，且又是正弦波的异频电源有较大的难度。因为异频电源波形的失真度对相角的影响很大，或者与实际工频正弦波电源情况下所造成的介质损耗有误差。
为了去除接近ｆ＇工频干扰，变频法不得不处理大量的数据，所以相对测量时间较长。
(五）、SXJS-IV处理干扰的方法
测试电源采用工频，使测量与实际一样。交错分时测量干扰信号和综合信号，将所有测到的信号都精确地锁定在与测试电源同步的０相位上，再将干扰信号倒相与综合信号叠加得到有效信号。
在数字处理上，广泛地采用数字与电子技术，剔除了相角相差１％的信号，剔除了数值较大的几组信号，也剔除了数值较小的几组信号，再将许多组中值信号求平均值得出结果，而每组信号都是由许多测量信号与处理后的干扰信号构成的。在调试中所有数据都以６位有效数字计算。为了提高测量速度，采用双计算机和高速并行Ａ／Ｄ转换器处理信息，软件全部用汇编完成。
对于强干扰信号较精确地测出其大小不难，仪器特别设计的高精度相位锁定器能将其准确地定相，为完全消除干扰提供了便利；对于弱干扰信号粗略地测出其大小也是可以的，而相位锁定器并不受测量信号的大小影响，仍然准确定相，弱干扰本来对测量信号的影响就小，再粗略地去除其大部分，也可以认为去除了干扰。
对于突发性干扰信号，仪器尽可能地将采样的干扰数据废除，或宣布测试失败，以保证数据结果的可靠性。
实验数据：用工频５00Ｖ电压加载５0ｐＦ电容，测量信号电流约８μＡ，无干扰时，快速测量测得介损为０.08％，抗干扰测量测得介损为０.08％；用２0000Ｖ工频做干扰，距离被试品１0厘米，快速测量测得介损为１2.2３％，抗干扰测量测得介损为０.09％。